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Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen

Date
Aug 30, 2019
Time
2:00 PM - 3:00 PM
Speaker
Dipl.-Ing. Steve Bigalke
Affiliation
IFTE
Series
TUD Feinwerktechnik und Elektronik-Design Kolloquium
Language
de
Main Topic
Elektro- u. Informationstechnik
Other Topics
Elektro- u. Informationstechnik
Host
Prof. Dr.-Ing. habil. Jens Lienig, IFTE
Description
Die Zuverlässigkeit zukünftiger integrierter Schaltungen ist stark durch das Auftreten von Elektromigration (EM) gefährdet. Aus diesem Grund muss ein Paradigmenwechsel vollzogen werden, welcher das bisherige Verifizieren der EM-Robustheit nach der Erstellung des Layouts durch eine proaktive EM-robuste Layoutgenerierung ersetzt. Die dafür notwendigen Anpassungen und Neuentwicklungen in der Verdrahtung digitaler Schaltungen sind Thema dieses Vortrages. Dieser führt in die Thematik der EM ein und stellt geeignete Analysemethoden, Gegenmaßnahmen und Ergebnisse einer EM-robusten Verdrahtung vor.
Links

Last modified: Aug 16, 2019, 10:06:25 PM

Location

Andere (Barkhausen-Bau, Zi.: II/26, Helmholtzstraße 18)

Organizer

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Homepage
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