BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:www.dresden-science-calendar.de
METHOD:PUBLISH
CALSCALE:GREGORIAN
X-MICROSOFT-CALSCALE:GREGORIAN
X-WR-TIMEZONE:Europe/Berlin
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:Europe/Berlin
X-LIC-LOCATION:Europe/Berlin
BEGIN:DAYLIGHT
TZNAME:CEST
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
DTSTART:19810329T030000
RRULE:FREQ=YEARLY;INTERVAL=1;BYMONTH=3;BYDAY=-1SU
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZNAME:CET
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
DTSTART:19961027T030000
RRULE:FREQ=YEARLY;INTERVAL=1;BYMONTH=10;BYDAY=-1SU
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
UID:DSC-9884
DTSTART;TZID=Europe/Berlin:20151023T140000
SEQUENCE:1445587289
TRANSP:OPAQUE
DTEND;TZID=Europe/Berlin:20151023T150000
URL:https://www.dresden-science-calendar.de/calendar/de/detail/9884
LOCATION:TUD Barkhausen-Bau\, Helmholtzstraße 1801087 Dresden
SUMMARY:Hald: MEMS-Sensorentwurf unter Berücksichtigung von parasitären R
 C-Effekten
CLASS:PUBLIC
DESCRIPTION:Speaker: Herr Axel Hald\nInstitute of Speaker: Robert Bosch Gmb
 H Reutlingen\nTopics:\nElektro- u. Informationstechnik\n Location:\n  Name
 : TUD Barkhausen-Bau (Barkhausen-Bau\, Zi.: II/26\, Helmholtzstraße 18)\n
   Street: Helmholtzstraße 18\n  City: 01087 Dresden\n  Phone: \n  Fax: \n
 Description: Bei der Entwicklung mikroelektromechanischer Systeme (MEMS) l
 iegt der Schwerpunkt in der Auslegung der mechanischen Domäne. Diese ist 
 durch Modelle und Simulationen sehr gut in den Entwurfsfluss eingebunden. 
 Im Vergleich zu integrierten Schaltkreisen ist die Erfassung der parasitä
 ren RC-Effekte bei MEMS nur im Ansatz durch eigene Werkzeuge abgedeckt. <b
 r />In diesem Vortrag werden Methoden zur automatisierten Analyse der para
 sitären RC-Effekte bei MEMS-Inertialsensoren vorgestellt\, um sie für ei
 ne Optimierung des MEMS-Sensorentwurfs unter Berücksichtigung der parasit
 ären RC-Effekte zu nutzen.
DTSTAMP:20260425T070820Z
CREATED:20150911T080103Z
LAST-MODIFIED:20151023T080129Z
END:VEVENT
END:VCALENDAR