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Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen

Datum
30.08.2019
Zeit
14:00 - 15:00
Sprecher
Dipl.-Ing. Steve Bigalke
Zugehörigkeit
IFTE
Serie
TUD Feinwerktechnik und Elektronik-Design Kolloquium
Sprache
de
Hauptthema
Elektro- u. Informationstechnik
Andere Themen
Elektro- u. Informationstechnik
Host
Prof. Dr.-Ing. habil. Jens Lienig, IFTE
Beschreibung
Die Zuverlässigkeit zukünftiger integrierter Schaltungen ist stark durch das Auftreten von Elektromigration (EM) gefährdet. Aus diesem Grund muss ein Paradigmenwechsel vollzogen werden, welcher das bisherige Verifizieren der EM-Robustheit nach der Erstellung des Layouts durch eine proaktive EM-robuste Layoutgenerierung ersetzt. Die dafür notwendigen Anpassungen und Neuentwicklungen in der Verdrahtung digitaler Schaltungen sind Thema dieses Vortrages. Dieser führt in die Thematik der EM ein und stellt geeignete Analysemethoden, Gegenmaßnahmen und Ergebnisse einer EM-robusten Verdrahtung vor.
Links

Letztmalig verändert: 17.08.2019, 22:08:27

Veranstaltungsort

Andere (Barkhausen-Bau, Zi.: II/26, Helmholtzstraße 18)

Veranstalter

TUD Elektro- u. InformationstechnikGeorg-Schumann-Str.1101187Dresden
Telefon
+49 351 463-34025
Fax
+49 351 463-37039
E-Mail
TUD Elektro- u. Informationstechnik
Homepage
http://www.et.tu-dresden.de/etit/
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